詳細(xì)摘要: 電子元器件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的助手。
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2024-01-05 在線(xiàn)留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備